Kim C.-J.(cjkim2@kaeri.re.kr), Jun B.-H., Choi J.-K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, template layers, buffer layers, RABITS process, IBAD process, comparison, fabrication, critical current, critical caracteristics
Kim H.-J., Kim C.-J., Jun B.-H.(bhjun@kaeri.re.kr), Choi J.-K.
Joo J., Kim C.-J., Jun B.-H., Choi J.-K., Kim H.-J.(sep1040@skku.ac.kr)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.